晶圓樣品上的電路圖案顯微觀察檢測解決方案
當(dāng)需要對晶圓樣品的電路圖案和顏色進行顯微觀察時,傳統(tǒng)的方法是對前者進行暗場照明、對后者進行明場照明,并在這兩種技術(shù)之間反復(fù)切換。因為在創(chuàng)建報告時需要為每種技術(shù)采集圖像,所以這種觀察方法非常耗時。

晶圓明場 晶圓暗場
奧林巴斯的解決方案
用于執(zhí)行半導(dǎo)體/FPD檢測的MX63/MX63L工業(yè)顯微鏡提供了一種可有效替代傳統(tǒng)觀察方法的解決方案:MIX 照明功能。利用MIX照明功能,可同時觀察晶圓的電路圖案和顏色信息。MIX圖像的銳度和清晰度可幫助提高工作效率和改進報告生成過程。

晶圓MIX
產(chǎn)品功能
簡化的工作流程
MX63/MX63L顯微鏡可幫助簡化整個檢測工作流程,并在潔凈室環(huán)境中也具有同樣的性能水平。
用戶友好界面
借助用于控制對焦、光強和孔徑的各種功能,可方便地調(diào)整MX63/MX63L顯微鏡設(shè)置。MX63/MX63L顯微鏡易于操作,即使是新手操作員也可以在適當(dāng)?shù)挠^察條件下進行檢測。
成像技術(shù)
MX63/MX63L顯微鏡基于數(shù)十年豐富光學(xué)經(jīng)驗構(gòu)建,可提供鮮明清晰的圖像,有助于確保獲得可靠的測量結(jié)果。
模塊化
MX63/MX63L顯微鏡采用模塊化設(shè)計,使用戶可以選擇豐富的光學(xué)元件以滿足自己的特定應(yīng)用需求。無需過多投資即可構(gòu)建所需的系統(tǒng)。
來源:奧林巴斯網(wǎng)站